超大行程自动编程光谱仪XAD

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超大行程自动编程光谱仪XAD

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涂镀层厚度

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企业邮箱:sales@ganbright.com

  • 产品描述

    XAD是一款全元素上照式荧光光谱仪,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足RoHS有害元素检测及成分分析,搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值守多点测量,测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的来料检验、生产工艺控制的质量管控测量。

     

    性能优势

     

    微聚焦X射线装置

    搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm²

    配备全自动可编程移动平台

    移动行程达600*600mm,可实现无人值守,对成百上千个样品进行全自动检测

    无损变焦检测技术

    可对各种异形凹槽件进行无损检测, 可测凹槽深度范围:0-90mm

    人性化封闭软件

    自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

    核心EFP算法

    可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析

    微光聚集技术

    最近测距光斑扩散度小于10%

     

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