多导毛细聚焦X荧光光谱仪 XAD-μ

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多导毛细聚焦X荧光光谱仪 XAD-μ

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涂镀层厚度

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毛细聚焦 超微小区域检测

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业务热线:0512-66899909

企业邮箱:sales@ganbright.com

  • 产品描述

    XAD-μ是一款专用于超小测量点或纳米级涂层的分析仪器。可用于柔性电路板、金手指、连接器、引线框架、传感器、IC载板等领域的超微小区域检测。

     

    性能优势

     

    ● 小至10μm的测量直径

    ● 更高的测试精度

    ● 高于普通光谱仪1000倍以上的聚焦光源

    ● 更好的测试稳定性

    ● 更低的检出限

     

     

    典型应用领域

    柔性电路板(FPC/PCB)
    主要测试镍钯金、镀层及合金成分含量

    传感器芯片
    传感器芯片铁镍合金的成分和厚度分析

    引线框架
    主要测试镀层及合金成分含量
    镀层包含镍钯金、镀银、镀锡的厚度检测

    IC封装载板
    主要测试镀层及合金成分含量
    镀层包含镍钯金的厚度检测

     

     

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