多功能一体式光谱仪 XAU-4CS

零售价

市场价


● 涂镀层分析
● 新材料检测
● 地质地矿检测
● 贵金属检测
● 合金成分分析
● P含量检测

重量

数量
-
+

库存

隐藏域元素占位

多功能一体式光谱仪 XAU-4CS

● 涂镀层分析
● 新材料检测
● 地质地矿检测
● 贵金属检测
● 合金成分分析
● P含量检测

所属分类:

涂镀层厚度

关键词:

返回列表

业务热线:0512-66899909

企业邮箱:sales@ganbright.com

  • 产品描述

    匠心打造的新一代设计,是一款独具科技感的一机多用型光谱仪,采用先进的EFP算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列,专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区ROHS检测及全元素分析,每一个功能都是最专业的。

     

    性能优势

     

    微聚焦X射线装置

    搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm²

    自主研发的EFP算法

    Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精确测量

    变焦装置及位置补偿算法

    可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm

    一机多用、精检精测

    各装置高度集成,不分散、不弱化光强,能够完全兼顾ROHS、全元素分析、各种大小异形涂镀层样品的快速精准检测

     

    典型行业应用

     

    镀层测厚
    NiP/Fe...

    成分分析
    不锈钢含量分析...

    贵金属检测
    Au/Pd/Rh...

    环保行业
    RoHS...

     

    技术参数

     

    型号

    XAU-4CS

    涂镀层分析

    可同时分析23个镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析,可检测Li(3)- U(92)涂镀层90种元素

    RoHS分析

    有害元素检测(RoHS、卤素)

    成分分析

    用于地矿、合金及贵金属等物质中Al(13)-U(92)的80种元素成分分析

    EFP算法

    标配

    软件操作

    人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

    分析时间

    1-200秒

    信号及接收

    DPP+FAST SDD

    X射线装置

    微聚焦加强型射线管

    准直器

    标配□0.1*0.3mm;φ0.3mm;φ1.2mm;φ3mm(可选φ0.2mm;φ0.5mm;φ1.2mm;φ3mm)

    (四准直器自动切换)

    微光聚焦技术

    最近测距光斑扩散度小于10%

    滤光片

    集成嵌入式多滤光片切换装置

    测量距离

    具有距离补偿功能,可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

    对焦方式

    高敏感镜头,手动对焦

    仪器尺寸

    545mm*380mm*430mm

    样品腔高度

    210mm

    样品台移动

    高精密XY手动滑轨

    可移动范围

    50mm*50mm

    仪器重量

    50KG

    其他附件

    电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、RoHS标准片、标准片、电镀液测量杯(选配)

    X射线标准

    DIN ISO 3497、ASTM B 568

     

产品咨询

姓名必填

电话号码必填

电子邮箱地址必填

留言内容必填

提交
%{tishi_zhanwei}%