XTU-4C是一款专业性能型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,下照式微聚焦多准型设计,搭载先进的EFP算法软件和微光聚集技术,配合切换准直器在检测各微小及凹凸面样品时检出限更低,仪...
XAD-μ采用多导毛细聚焦XRF应用多导毛细管技术,轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析,在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分...
P算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列,专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及全元素分析,每一个功...
P算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列,专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及全元素分析,每一个功...
XAU是一款专业性能型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,全面升级下照式探测器,多模态人机交互,搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件,在检测多层合金、上下...
XTU-50B是一款专业性能型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,采用下照式C型腔体设计,设计结构紧凑,模块精密化程度高。微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为...
XAVU是一款一机多用型X荧光光谱仪,配备智能抽真空系统,高性能的屏蔽性能去除大气对低能元素的影响,对Na、Mg、Al、Si、P等轻元素镀层厚度及成...
P算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列,专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及全元素分析,每一个功...
P算法和微光聚集技术的同时搭配新一代的多道及时序排列,专精型既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及全元素分析,每一个功...