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XTU-BL X荧光光谱仪

型号:XTU-BL

  • 测量面积:最小0.002mm²
  • 镀层分析:23层镀层24种元素
  • 仪器特点:可手动变焦
  • 仪器优势:同元素不同层分析
  • 联系方式:400-850-1617
  • 服务宗旨:专注研发,专业生产,专精服务

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仪器简介:

XTU-BL是一款设计结构紧凑,模块精密化程度极高的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型

该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。


产品优势:

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技术参数:

1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)

2. 涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)

3. 厚度最低检出限:0.005μm

4. 成分最低检出限:1ppm

5. 最小测量直径0.05mm(最小测量面积0.002mm²)

6. 对焦距离:0-30mm

7. 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量:50KG

10. XY轴工作台移动范围:50mm*50mm

11. XY轴工作台最大承重:20KG


应用领域:

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多元迭代EFP核心算法(专利号:2017SR567637)

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。


选择一六仪器的四大理由:

1.一机多用,无损检测

2.最小测量面积0.002mm²

3.可检测凹槽0-30mm的异形件

4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测


配置清单:

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XTU-BL中文资料下载(提取码请联系客服获取):

https://pan.baidu.com/s/1L7oAMVHpM9sdptt6oa3kSQ

XTU-BL brochure download(Pls contact customer service to get Code):

https://pan.baidu.com/s/1wZxFCy9NtHvXp8Qh1yEXEQ



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