XTU-50B是一款专业性能型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，采用下照式C型腔体设计，设计结构紧凑，模块精密化程度高。
微聚焦加强型X射线装置：可测试各类极微小的样品，即使检测面积为0.008mm²的样品也可轻松、精准检测
变焦装置及位置补偿算法：可对各种异性凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm
自主研发EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可精准测量
微米级移动精度：高精密XY移动滑轨，实现多点位、多样品的精准位移和同时检测，移动精度可达5um，轻松应对极微小样品检测
先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
镀层厚度分析如此简单
1.即放即测
C型样品腔体设计便于放置样品
放置样品后，仅需几秒便能出检测结果
无损分析:无需破坏样品
2.最佳设计，快速找点
高分辨率和高放大倍率的彩色数码影像装置，画面清晰
通过样品整体图像快速找到测量区域
搭配高精度千分尺式移动滑轨，实现微小区域下精确、快速对准样品焦点
3.一键测量
一键无标样测试(无需镀层标样)
自动识别物料，规避误选工作区带来的测试误差
先进的EFP算法
强大的EFP多元迭代数据库，搭载变焦装置及高集成光路系统，轻松解决各种异形件、微小样品(最小达0.002mm²)、多镀层、重复镀层、合金镀层的膜厚及成分的检测
广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域
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