XTD-200是一款高端全自动型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，全新上照式设计，微聚焦，搭载可编程自动位移平台，无人值守、自动检测多样品，且更加智能化，采用自主研发的AI影像识别功能可完成智能寻点，自动匹配测试。对各超大异形件及微小密集型多点的测试更加高效、智能。
微聚焦X射线装置：搭载微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.002mm²
变焦装置及位置补偿算法：可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm
自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精确测量
测量速度快效率高：一键测试、各部件置入下位机控制，搭载可编程自动化移动平台，移动精度2um，一次编程坐标存储无人值守检测成百上千个样品
高性能接收器：自由选配高性能接收器，无论微小样品、超大工件还是密集型多点测试均可轻松应对，可检测纳米级厚度
自动智能检测：大行程内无人值守自动测量，搭配AI影像识别，实现自动、智能、在线检测
自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品;一次编程便可实现成百上千个样品点的高效检测
智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势
在线：根据客户要求可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现全自动智能化工厂
XTD-200光谱测厚仪广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、环保行业、汽车行业、卫浴装饰、航空航天、引线支架、电镀行业等多种领域
官方公众号
技术支持