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XAD光谱分析仪

    XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。    性能优势:    1. 微小样品检测:最小测量面积0.0085mm²    2. 变焦装置算法:可改变测量距离

  • 测量面积:最小0.0085mm²
  • 镀层分析:23层镀层24种元素
  • 仪器特点:RoHS卤素有害元素检测
  • 仪器优势:同元素不同层分析
  • 联系方式:400-850-1617
  • 服务宗旨:一六仪器,一流品质

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XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。


性能优势:

1. 微小样品检测:最小测量面积0.0085mm²

2. 变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm

3. 核心EFP算法Al(13)-U(92)元素的成分分析Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量

4. 先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限

5. 高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积50mm²探测器

6. X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置

7. 上照式设计:实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量

8. 大行程移动平台:手动XY滑台100*150mm,自动XY平台200*200mm


应用领域:

涂镀层分析-RoHS检测-地矿全元素分析-合金、贵金属检测

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涂镀层分析

行业应用:

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巧妙的结构设计:

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一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。


核心EFP算法:

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专业的研发团队在AlphaFp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。


RoHS领域

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合金、贵金属、地矿检测

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技术参数表

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关于我们

江苏一六仪器有限公司坐落于苏州昆山市,是一家专注于光谱分析仪器研发、生产的高新技术企业。

公司现有专用高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体全能X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器,可广泛的应用于涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、军工等制造领域。

欢迎各位新老朋友前来合作洽谈。

免费热线:400-850-1617,联系人:张小姐 

地址:江苏省昆山市成功路168号

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