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XAVU镀层测厚仪

        XAU系列能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的高效率镀层测厚仪!        此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。        搭配微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,以及高敏变

  • 测量面积:最小0.002mm²
  • 镀层分析:23层镀层24种元素
  • 仪器特点:可变焦对焦
  • 仪器优势:同元素不同层分析
  • 联系方式:400-850-1617
  • 服务宗旨:一六仪器,一流品质

XAVU系列能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的高效率光谱分析仪!


此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。

搭配微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试极微小和异形样品。

含量分析检出限最低1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,最小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,特殊要求可达90mm。

外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。        

技术参数:
1.探测器:半导体冷却硅漂移SDD探测器

2.探测器分辨率:130±5ev 

3.涂镀层分析范围:各种元素及有机物
4.可一次性同时分析:23层镀层,24种元素
5.最小测量面积:0.04mm²
6.对焦距离:0-30mm,特殊要求可达90mm
7.样品腔尺寸:500mm×360mm×215mm
8.仪器尺寸:550mm×480mm×470mm

9.仪器重量:45kg

仪器配置:
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.先进的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um



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