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XTD镀层测厚仪

    XTD系列测厚仪,专业表面处理检测解决方案:    XTD系列测厚仪,专用于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。   

  • 测量面积:最小0.04mm²
  • 镀层分析:23层镀层24种元素
  • 仪器特点:可变焦对焦
  • 仪器优势:同元素不同层分析
  • 联系方式:400-850-1617
  • 服务宗旨:一六仪器,一流品质

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    XTD系列测厚仪,专业表面处理检测解决方案:

    XTD系列测厚仪,专用于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

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    仪器优点:

    1. 分析精度极高

    2. 分析范围广泛

    3. 微区精准定位

    4. 操作简单快捷

    5. 结果可靠精准

    6. 领先行业标准

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    XYZ高精密移动装置:快速精准定位,手/自动(可选),自动版可实现编程定位多点自动测试。

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    软、硬件双向操作:人性化设计,实现软件,硬件双向快捷操作。

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    变焦+对焦:配备高敏感镜头,实现无感对焦,可测各种异形件、超大工件。



    性能优势:

    1.先进的EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

    2.上照式设计:实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。

    3.自动对焦:高低大小样品可快速清晰对焦。

    4.变焦装置算法:可对最大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。

    5.小面积测量:最小测量面积0.04mm²

    6.大行程移动平台:手动XY滑台100*150mm,自动XY平台200*200mm.


    结构设计:

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    一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度极小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。


    独创EFP算法:

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    专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,多元迭代开发出EFP核心算法,结合光路转换的专利技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

    仪器型号对比:

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XTD中文资料下载(提取码请联系客服获取):

https://pan.baidu.com/s/1LoInLYfhXuww5U-zIAi0Qw



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