镀镍测厚仪检测原理分类与影响测量精度的原因

　　X射线荧光光谱仪，专门用于镀金/镀锡/镀铬/镀银/镀镍层厚度检测;其核心部件采用美国进口，软件算法采用XRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。

　　1.镀镍测厚仪根据测量原理的分类

　　(1)磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢铁银镍.此种方法测量精度高；

　　(2)涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度高；

　　(3)超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合；

　　(4)电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦；

　　(5)放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合.国内目前使用最为普遍的是前两种方法；

　　2.影响镀镍测厚仪测量精度的原因

　　(1)覆盖层厚度大于25µm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;

　　(2)基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;

　　(3)任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;

　　(4)涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.

　　(5)试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;

　　(6)基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;

　　(7)涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。

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