X荧光仪器工作原理

　　XD-1000上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件，如线路板、引线支架、卫浴产品等。下面和一六仪器一起了解X荧光仪器工作原理。

　　X荧光光谱测厚仪仪器工作原理：

　　1)在 X 射线管中，由加热阴极产生的电子，在受到最大为 50KV 的可调高压的加速后，轰击阳极(通常由钨或钼组成)。

　　2)电子的动能主要转化为韧致辐射。此外，在阳极(例如钨)上还会产生独特的，高强度的 X 射线荧光辐射。初级辐射就是这两种辐射的组合。最大能量为 50KeV。

　　3)采用不同大小和形状(圆形，正方形，槽型)的视准器，可选择 X 射线射到工件上的形状和尺寸，这样就可以测量小到约 50Ⅹ50 µm 的测量点。视准器由通透的可进行测量点光学成像的材料组成。

　　4)有一个光源(图中没有画出)用于样品的照明。采用一块反射镜和透镜可直接反射光线到彩色的视频摄像头上。反射镜的中心有一个孔，用于通过初级辐射。

　　5)初级辐射激励镀层和底材发射 X 射线荧光辐射。这是由于初级辐射量子碰撞内部的某一电子层上的电子所致(光电效应)。

　　6)由于能量的缘故，产生的空位由外层的一个电子填充，能量差以 X 射线荧光辐射(Kα，Kβ 辐射，等等)的形式发出。该能量差是相应材料的特征能级差。

　　7)辐射信号使用辐射探测器来测量，通常采用充满氙气的比例计数器。X 射线荧光辐射电离氙原子。释放出的电子朝着处于计数器中央的高压轴线加速。自由电子的数目与 X 射线荧光辐射的能量成正比。

　　8)撞击轴线的电子转换为电脉冲，由放大器放大，脉冲的高度与辐射能量成正比。

　　9)脉冲按照它们产生的能量和频率(强度)进行排序。这样就可以获得给定的镀层/底材组合的X射线荧光辐射频谱。采用基本参数方法，软件可根据相关的理论计算得出镀层厚度和成分，甚至可以允许无标准片测量。

　　以上就是一六仪器整理分享的关于X荧光仪器工作原理，想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。