X荧光光谱仪在区域地质勘察中应用

　　利用 X射线荧光光谱仪器对地质勘察中采集的样品粉末进行多元素测定非常便捷，能快准确、高精度地得到检测结果。对于不同区域的地质勘察样品，能利用专业计算机软件进行数据处理，提高了分析准确性和效率。通常区域化测试中需要测定39种不同的元素，而X射线荧光光谱仪就能对其中的26种进行准确测定。目前X射线荧光光谱仪进行测定工作流程比较完整，在结合其他化学探样品分析方法后，多元素测定的效果很好，具有良好的经济效益和社会价值。

　　我司生产的XTU-4C/XD-1000两款型号的X荧光光谱仪，搭配四准可切换准直器，最小可选用0.03*0.2mm的准直器，搭配大面积铍窗接收器，5-10s的测试时间便可以检测出镀层厚度，且同时分析出成分占比，且XD-1000型号的rohs测厚仪，可进行自动编程，可以对焊带上多点进行编程测试，检测镀层的均匀性。对焊带的生产管控起着至关重要的作用，现阶段广泛应用于焊带的品质检测中。

　　X荧光光谱仪特性：

　　可靠的高性能

　　测试精度、稳定性高，在提供高质量的同时减少浪费，消除死时间;

　　更高的性价比

　　制造工艺升级，更具性价比，大大节省使用成本;

　　前沿检测技术

　　高集成垂直光路系统，采用先进的解谱技术和影像识别算法，实现精准、快速、智能、自动检测，满足企业检测需求;

　　使用寿命更长

　　模块化设计，聚焦节能，搭载自动休眠模式，延长使用寿命;

　　核心EFP算法

　　先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准方便，而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题;

　　四焦-体装置

　　搭载高集成四焦技术，可测量最大90mm深度的凹槽高低落差异形件;

　　上照式设计

　　上、下位机管理分工，可实现对超大型工件的快、准、稳高效测量;

　　适用性强

　　精准测量各类金属镀层厚度的同时可对电镀液进行分析;

　　以上就是一六仪器整理分享的关于X荧光光谱仪在区域地质勘察中应用。想了解仪器更多领域应用欢迎持续关注。