一文告诉你多导毛细聚焦X荧光光谱仪如何检测IC载板/引线框架

　　集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。接下来和一六仪器一起来了解一下。

　　作为集成电路的芯片载体的引线框架，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。封装基板是Substrate(简称SUB)。基板可为芯片提供电连接、保护、支撑、散热、组装等功效，以实现多引脚化，缩小封装产品体积、改善电性能及散热性、超高密度或多芯片模块化的目的。

　　作为芯片封装的载体和基板，为了保证芯片和引线框架和基板的良好连接，会在引线框架以及基板上进行镀银或者化学镍钯金(ENEPIG)的电镀处理。

　　ENEPIG工艺，是指在基材表面先镀化学镍然后在镀钯和金，Au 和 Pd 的涂层厚度仅为几纳米。为了确保产品品质，必须要对低至纳米的镀层厚度进行测量。

　　几纳米涂镀层厚度对仪器精度要求极高，对于较薄的涂层，正确处理由基底材料产生的荧光信号也更为重要。

　　其次随着封装工艺的发展，引线的引脚数目原来越多，尺寸也越来越小，传统的XRF测量仪器很难聚焦到如此微小的区域并进行准确的测量。

　　采用多导毛细光学系统的X射线光谱仪不仅可以将X光束缩小至10 μm，同时得到数千倍的强度增益，大大降低了XRF检出限极大程度保证了纳米级超薄镀层测试的准确性及稳定性，因此被广泛应用于IC引线框架和基板的镀层检测中。

　　一六仪器多导毛细聚焦X荧光光谱仪

　　1、多导毛细光学系统和高性能SDD探测器：区别金属准直，多导毛细管可将光束缩小至10 μm，同时得到数千倍的强度增益。可测量超微小样品的同时极大程度保证了测试的准确性及稳定性。

　　2、微米级超小区域：在Elite-X光学系统设计下大大降低检出限，纳米级超薄镀层均可准确、可靠测试

　　3、全方位广角相机：样品整体形貌一览无余，且测试位置一键直达

　　4、搭配高分辨微区相机：千倍放大精准对焦测试区域，搭配XY微米级移动平台，三维方向对焦聚焦测试点位，误差<±2 μm

　　5、多重保护系统：V型激光保护，360°无死角探入保护，全方位无死角保护您的样品不受损害，保证仪器安全可靠的运作

　　6、全自动移动平台：可编程化的操作，针对同一类型样品，首次编程测试点位，同一类样品自动寻路直接测试

　　7、人性化的软件：搭配EFP核心算法软件，人机交互，智慧操作

　　8、可搭配全自动进送样系统，与您的产线完美配合

　　以上就是一六仪器分享的多导毛细聚焦X荧光光谱仪如何检测IC载板/引线框架，希望可以帮助友友了解此产品，如有疑问可搜索一六仪器获取更多资讯。