一六黄金检测仪：XAU高性能膜厚仪

　　目前国内对于高含量金首饰没有相关检测标准，利用X射线荧光光谱法。一些天然矿物，如黄铜矿、黄铁矿和金云母等，以及一些合金，如黄铜、人造 黄金 和彩色K黄金等，具有与黄金相似的颜色和光泽，常有人用来以假乱真。因此，采用适当的方法或者仪器对黄金及其饰品进行识别和鉴定，是十分必要的。接下来一六仪器说说黄金检测仪：XAU高性能膜厚仪。

　　XAU高性能膜厚仪仪器简介：

　　XAU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。

　　应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。

　　被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

　　XAU高性能膜厚仪产品优势：

　　微小样品检测：最小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²);

　　变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm;

　　自主研发的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量;

　　先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限;

　　高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器;

　　光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置;

　　XAU高性能膜厚仪应用领域：

　　广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域。

　　专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

　　以上就是一六仪器整理分享的关于XAU高性能膜厚仪黄金检测仪，一机多用，无损检测，轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测。有需要的朋友欢迎电话咨询。