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X荧光光谱仪性能评估三要素,你了解吗?

2022-07-15 15:09:18 yunfengnet 652

  X荧光光谱仪根据用途和设计针对性有很多俗称:如X荧光测厚仪、X-ray膜厚仪、光谱测厚仪等,随着技术的不断发展进步,X荧光光谱仪在非常多的领域都得到了广泛的应用,对于企业发展提供了很大的助力,很多人在购买X荧光光谱仪的时候不知道看什么,实际上X荧光光谱仪性能评估需要注意三要素,今天跟着X荧光光谱仪厂家来了解一下吧。

X荧光光谱仪性能评估三要素,你了解吗?

  1.最小测量面积:性能好的仪器最小测量直径可以到0.1mm以下。

  2.可测样品形状的复杂程度:除了对焦还搭配变焦装置和算法,可以测试凹凸高低落差90mm以上。

  3. 测量样品的组分结构:除了测试一般合金和多层膜厚,还可以测试重复镀层和轻元素等。

  测厚仪配备的微光聚集和变焦装置搭配了先进的解谱技术,再结合最新型的探测器及数字多道处理,在一六仪器的新算法软件上,让成分及Rohs分析可以在更微小的样品上也实现了精准测量。各装置高度集成,不分散、不弱化光强,能够完全兼顾RoHS、全元素分析、各种大小异形涂镀层样品的快速精准检测,每一个功能都是专业的。

  以上就是X荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容,如果大家想要了解更多关于X荧光光谱仪的内容,欢迎咨询我们400-850-1617。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。


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