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X射线荧光光谱测厚仪在进行膜厚测试的时候有哪些特点?

2022-06-16 15:48:38 yunfengnet 638

  随着制造业的发展,业内对材料的要求越来越高,材料加工市场越来越大,材料的涂镀层种类也变的更加繁多,质量要求也逐渐增加。市面上有很多膜厚测试的仪器,如今应用比较多的是X射线荧光光谱测厚仪,那X射线荧光光谱测厚仪在进行膜厚测试的时候有哪些特点呢?今天就和X射线荧光光谱测厚仪生产厂家一六仪器的小编来说一说吧。

  X射线荧光光谱测厚仪测试原理:使用X射线进行波谱测量,进而换算厚度,精度高 ,速度快,视机种可测试3-5层以上膜厚, 0.1mmψ以下面积也可测量。多层合金的成分含量也能计算。

X射线荧光光谱测厚仪在进行膜厚测试的时候有哪些特点?

  X射线荧光光谱测厚仪有哪些特点呢?

  1.价格高,机种不同,价格在10万~100万左右,可测试P(磷)~U(铀),并且支持Rohs及元素分析功能等。

  2.无损检测,Windows操作系统,使用简便。操作快速,能适应多类镀层,大量检测,但体积较大,计算机除外约100000cm2,50000g左右。

  3.测量厚度范围较广, 0.002um~100um左右,能测试5层以上膜厚,并且可以测量合金镀层,也可分析镀层元素和含量比。

  4.测量精度高,1%左右,分辨率高,0.001um左右。

  5.测头的面积较小,对需测的样品要求不高:0.1mmψ以下也可测量,基材厚度无要求。

  6.可编程XYZ测量台及大移动范围。

  以上就是X射线荧光光谱测厚仪厂家一六仪器对于X射线荧光光谱测厚仪的相关介绍,如果你想要了解更多内容,欢迎联系我们400-850-1617。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务,在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上,都具备更佳的表现。


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