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X射线荧光光谱测厚仪在进行膜厚测试的时候有哪些特点？

2022-06-16 15:48:38 yunfengnet 757

　　随着制造业的发展,业内对材料的要求越来越高,材料加工市场越来越大,材料的涂镀层种类也变的更加繁多,质量要求也逐渐增加。市面上有很多膜厚测试的仪器，如今应用比较多的是X射线荧光光谱测厚仪，那X射线荧光光谱测厚仪在进行膜厚测试的时候有哪些特点呢?今天就和X射线荧光光谱测厚仪生产厂家一六仪器的小编来说一说吧。

　　X射线荧光光谱测厚仪测试原理：使用X射线进行波谱测量，进而换算厚度，精度高，速度快，视机种可测试3-5层以上膜厚， 0.1mmψ以下面积也可测量。多层合金的成分含量也能计算。

　　X射线荧光光谱测厚仪有哪些特点呢?

　　1.价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P(磷)~U(铀)，并且支持Rohs及元素分析功能等。

　　2.无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。

　　3.测量厚度范围较广， 0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。

　　4.测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

　　5.测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。

　　6.可编程XYZ测量台及大移动范围。

　　以上就是X射线荧光光谱测厚仪厂家一六仪器对于X射线荧光光谱测厚仪的相关介绍，如果你想要了解更多内容，欢迎联系我们400-850-1617。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务，在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上，都具备更佳的表现。

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