欢迎光临江苏一六仪器有限公司官网!

X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律?

2022-06-09 14:41:28 yunfengnet 642

  X荧光光谱仪能够对生活中不同元素形成的各式各样的导体及非导体材料进行分析,近些年在众多领域都有广泛的应用。那么X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢?今天就和X荧光光谱仪生产厂家一六仪器的小编来了解一下吧。

  1、莫塞莱定律

  台式光谱仪发生故障时,尤其是发生比较复杂的综合性故障,对于解决这种故障应该先从比较容易解决的故障入手。

X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律?

  2、布拉格定律

  该定律是一种可以反映晶体衍射基本关系的理论推导定律,同时,布拉格定律是波长色散型X荧光光谱仪所使用的分光原理,在进行材料检测分析的时候能够让不同元素不同波长的特征X荧光完全分开,使谱线处理工作变得非常简单,降低仪器检出限。

  3、比尔-朗伯定律

  比尔-朗伯定律是反应样品吸收状况的定律,涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。X荧光光谱仪采用这一定律进行检测分析时,样品可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要将混合的X射线按波长分开,分别测量不同波长的X射线强度,以进行定性和定量分析。

  以上就是X荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容,如果大家想要了解更多关于X荧光光谱仪的内容,欢迎咨询我们400-850-1617。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。


标签:   X荧光光谱仪生产厂家​ X荧光光谱仪
江苏一六仪器有限公司 版权所有 2017-2022 网站XML地图 苏ICP备17061610号-1 Powered by MetInfo 5.3.19 ©2008-2021 MetInfo Inc.