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X荧光光谱仪的检测定律有哪些?

2020-05-25 19:29:00 16elite 15

         X荧光光谱仪能够对生活中不同元素形成的各式各样的导体及非导体材料进行分析。那么X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢?
  1、莫塞莱定律
  莫塞莱定律是反应各个元素X射线特征光谱规律的一种实验定律,依靠莫塞莱定律进行分析的方式也是最可靠的方法之一。X荧光光谱仪在对材料进行分析时也会使用到这一定律,在分析时X荧光光谱仪能够对内层电子的跃迁产生的、表明X射线特征的光谱和原子序数一一对应起来,从而获得分析结果。
  2、布拉格定律

测厚仪标准片测厚仪标准片


  该定律是一种可以反映晶体衍射基本关系的理论推导定律,同时,布拉格定律是波长色散型X荧光光谱仪所使用的分光原理,在进行材料检测分析的时候能够让不同元素不同波长的特征X荧光完全分开,使谱线处理工作变得非常简单,降低仪器检出限。
  3、比尔-朗伯定律
  比尔-朗伯定律是反应样品吸收状况的定律,涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。X荧光光谱仪采用这一定律进行检测分析时,样品可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要将混合的X射线按波长分开,分别测量不同波长的X射线强度,以进行定性和定量分析。



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