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X射线荧光分析仪的应用及特点

2018-08-09 10:14:36 16elite 15

        X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,对产品和材料质量进行无损检测,对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时,X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面首选仪器之一。
       X射线荧光分析仪产品特点
            1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪                   配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
            2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
            3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由此产生了重叠峰SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。
            4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值                   的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
            5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

测厚仪标准片

测厚仪标准片



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